Каталог навчально-методичних матеріалів

Навчально-методичні матеріали освітньої програми "Інформаційно-вимірювальні технології"

Управління науковими проєктами 1

Конспект лекцій з дисципліни "Управління науковими проектами" / Укл. А. В. Усов ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2025. – 126 с.
Конспект лекцій для здобувачів третього рівня вищої освіти освітньо- наукової програми з дисципліни «Управління науковими проектами» / Укл. А. В. Усов ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2026. - 200 с.
Конспект лекцій для здобувачів третього рівня вищої освіти освітньо- наукової програми з дисципліни «Управління науковими проектами» / Укл. А.В. Усов ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2026. – 200 с.

Сучасні проблеми розвитку в метрології, стандартизації та сертифікації

Методичні вказівки до практичних занять з дисципліни «Сучасні проблеми розвитку в метрології, стандартизації та сертифікації» для здобувачів третього (доктор філософії) рівня вищої освіти спеціальності:152 – Метрологія та менеджмент якості / Укл. В. М. Тіхенко ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2022. - 40 с.

Тенденції розвитку метродогічного забезпечення інноваційних технологій

Конспект лекцій з дисципліни «Тенденції розвитку метрологічного забезпечення інноваційних технологій» для здобувачів третього рівня вищої освіти за спеціальністю 152 − Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка / Укл. Г. О. Оборський, І. В. Прокопович, К. О. Дядюра, О. С. Левинський ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2022. – 33 с.
Методичні вказівки до практичних занять з дисципліни «Тенденції розвитку метрологічного забезпечення інноваційних технологій» для здобувачів третього рівня вищої освіти за спеціальністю 152 − Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка / Укл. Г. О. Оборський, І. В. Прокопович, К. О. Дядюра, О. С. Левинський ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2022. – 19 с.

Системний аналіз в управлінні якістю

Методичні вказівки до практичних занять з дисципліни «Системний аналіз в управлінні якістю» за спеціальністю 152 Метрологія та інформаційно- вимірювальна техніка за третім (освітньо-науковим) рівнем вищої освіти / Укл. Л. М. Перпері ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2022. – 20 с.
Конспект лекцій з дисципліни «Системний аналіз в управлінні якістю» за спеціальністю 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка для здобувачів вищої освіти за третім (освітньо-науковим) рівнем вищої освіти / Укл. Л. М. Перпері ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2022. – 45 с.

Методи оцінювання та розрахунку параметрів надійності складних систем

Конспект лекцій з дисципліни «Методи оцінювання та розрахунку параметрів надійності складних систем» для студентів спеціальностей: 152 «Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка», 175 «Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології» та G6 «Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології», освітня програма «Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології» третього освітньо-наукового рівня (PhD) / Укл. Г. О. Оборський, В. М. Тонконогий ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2025. – 45 с.

Іноземна мова за професійним спрямуванням 1

Методичні вказівки до практичних занять з англійської мови English for professional purposes. I part. (Англійська мова за професійним спрямуванням 1 частина) для здобувачів ІІІ рівня вищої освіти (PhD)/ Спеціальність G6 Інформаційно-вимірювальні технології / Укл. Н. О. Коваль, Г. Ф. Дьяченко, М. М. Неврева ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2025. – 56 с.

Іноземна мова за професійним спрямуванням 2

Методичні вказівки до практичних занять з англійської мови English for professional purposes II Part (Англійська мова за професійним спрямуванням I1 частина) для здобувачів ІІІ рівня вищої освіти (PhD)/ Спеціальність G6 Інформаційно-вимірювальні технології / Укл. Н. О. Коваль, Г. Ф. Дьяченко, М. М. Неврева ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2025. – 39 с.

Сучасні проблеми розвитку інформаційно-вимірювальних технологій

Конспект лекцій з дисципліни «Сучасні проблеми розвитку в метрології, стандартизації та сертифікації», для здобувачів третього (доктор філософії) рівня вищої освіти, спеціальність «Метрологія та менеджмент якості» / Укл. В. М. Тіхенко ; Нац. ун-т «Одеська політехніка». – Одеса, 2022. - 58 с.